口腔醫師技能考點(diǎn)：牙周探診檢查的技術(shù)

1.用改良握筆法握持探針。

2.探診時(shí)要有支點(diǎn)，可以是口內支點(diǎn)，也可以是口外支點(diǎn)。

3.探入時(shí)探針應與牙體長(cháng)軸平行，探針頂端緊貼牙面，沿根面深入牙周袋或齦溝，注意探入時(shí)若遇到牙石要避開(kāi)牙石，直達袋底。

4.探入力量要輕，約為20～25g。

5.以提插方式移動(dòng)探針，如“走步”樣圍繞每個(gè)牙的每個(gè)牙面進(jìn)行探查，以發(fā)現袋最深的部位及袋的形態(tài)。

6.在探查鄰面時(shí)，要緊靠接觸區處探入，探針可稍?xún)A斜以便能探入接觸點(diǎn)下方的齦谷處。

7.對多個(gè)牙或全口牙探診時(shí)，要按一定順序進(jìn)行。每個(gè)牙探查要包括6個(gè)位點(diǎn)：頰側近中、中央、遠中位點(diǎn)及舌（腭）側近中、中央、遠中位點(diǎn)。

8.測量記錄每個(gè)位點(diǎn)的探診深度（probing depth，PD），即袋底至齦緣的距離，以mm為單位記錄。